振镜寿命评估方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品

本申请涉及一种振镜寿命评估方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品，应用于振镜试验系统。所述方法包括：获取多个试验条件下振镜试验系统中振镜的试验寿命；根据试验寿命、试验温度和试验转速，构建振镜加速模型；根据振镜加速模型、各试验条件和正常工作条件，确定振镜在正常工作条件下的振镜寿命；试验条件包括试验温度和试验转速。上述方法通过振镜的试验寿命、振镜的试验温度和试验转速，先构建振镜加速模型，再基于振镜加速模型、各试验条件和正常工作条件，确定振镜在正常工作条件下的振镜寿命，为确定正常工作条件下的振镜寿命提供了一种方法，填补了无法评估振镜寿命的空白。