一种GaN功率器件综合老化应力测试系统及测试方法

本发明公开了一种GaN功率器件综合老化应力测试系统及方法，旨在实现在一个平台完成GaN功率器件的多种测试需求。系统包括上位机模块、中央控制系统、主电路模块、电源模块、示波器、温度控制模块和被测器件插槽。中央控制系统存储有多种测试程序，如高温反偏、高温栅偏和功率循环模式。上位机模块通过I/O接口与中央控制系统通信，发送控制命令。中央控制系统接收命令后，对温度控制模块、电源模块和主电路模块进行控制。电源模块与主电路模块相连，主电路模块与示波器连接，温度控制模块与被测器件插槽相连，被测器件插槽再与主电路模块连接。