一种存储芯片的质量评估方法

本发明涉及数据分析技术领域，具体公开了一种存储芯片的质量评估方法，包括以下步骤：S1：确定目标芯片的质量参数，获取目标芯片的质量评分；S2：生成坐标点，对坐标点进行拟合得到拟合曲线；根据拟合曲线确定异常比例，根据总异常比例和拟合曲线确定判断值；计算平均判断值，确定异常生产线；S3：对生产序列号区间进行划分得到生产序列号子区间，对生产序列号子区间内的存储芯片进行抽检。本发明可以提高检测效率，减少质量问题芯片的遗漏。