一种基于芯片级混合键合的倒装封装方法

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一种基于芯片级混合键合的倒装封装方法
申请号:CN202411870700
申请日期:2024-12-18
公开号:CN119764197A
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于芯片级混合键合的倒装封装方法,准备芯片晶圆和载板晶圆,先制备出表面的SiN阻挡层,再分别制备SiO2材质的芯片介质层和载板介质层,分别制备出芯片金属层和载板金属层,将芯片晶圆和载板晶圆进行化学机械研磨处理;将芯片晶圆进行激光隐形切割为单个芯片;对芯片和载板晶圆的键合表面进行等离子体清洗和甲酸蒸汽活化处理;使用热压焊机多次拾取芯片,光学对准后放置到载板晶圆进行热压预键合;将已预键合芯片的载板晶圆移动至马弗炉进行退火,形成金属键,完成最终键合。本发明降低了混合键合光刻板开模成本,允许了成熟模块在混合键合中的复用与重组。
技术关键词
倒装封装方法 芯片 激光隐形切割 热压焊机 介质 载板金属层 晶圆 等离子清洗机 湿法去胶 甲酸 对准偏差 阻挡层 共价键 马弗炉 蒸汽 种子层 气氛 机械 应力
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