寿命评估模型建立方法、装置、设备及存储介质

本申请涉及一种寿命评估模型建立方法、装置、设备及存储介质，应用在集成电路领域，包括确定所述功率器件的电应力条件，并测量所述功率器件在所述电应力条件下的失效时间；计算所述功率器件在所述失效时间下的韦氏累积分布函数；根据所述韦氏累积分布函数和预设的全局形状因子拟合计算所述功率器件在所述电应力条件下的特征寿命值；构建深度神经网络模型，并采用拟合计算得到的所述特征寿命值对所述深度神经网络模型进行训练，生成加速寿命评估模型。本申请具有的技术效果是：对工艺和结构复杂的器件进行失效分析和寿命评估，提高评估准确率。