一种基于scan chain的全信号调试方法及系统

本发明公开一种基于scan chain的全信号调试方法及系统，包括如下步骤：S0、设置采集深度；S1、控制芯片处于function mode，CLOCK MANAGEMENT控制FUNC_CLK翻转一次后停在低电平；S2、控制芯片处于内部全信号调试模式，由scan chain电路的卸载方式经PAD_SO获得芯片内部所有SDFF的信号值；S3、结合网表结构推导出RTL上所有信号的信号值，实现全信号的调试。本发明利用芯片自带的scan chain，获取芯片内所有scan chain上的FF值，结合网表结构反推得到RTL上所有信号的值，实现成本低、观察的信号数量不受限制和不会破坏芯片的优点。