一种PIN-FET探测器电压响应度变化比的快速测试系统及方法

本发明属于光电检测技术领域，具体涉及一种PIN‑FET探测器电压响应度变化比的快速测试系统及方法，包括微控制器系统板、TEC温度筛选台、温度传感器、光源和电源；微控制器系统板与PIN‑FET探测器和温度传感器连接；PIN‑FET探测器设于TEC温度筛选台上；PIN‑FET探测器与光源连接；温度传感器用于获取PIN‑FET探测器的温度和TEC温度筛选台的温度；电源与微控制器系统板和PIN‑FET探测器连接。与现有技术相比，本发明解决现有技术中缺少对单支或者少量的PIN‑FET探测器进行电压响应度变化比测试的系统和方法，本方案实现了对单支或者少量的PIN‑FET探测器进行电压响应度变化比测试。