一种芯片测试电路结构

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试电路结构，包括存储器、功能输入电路、MBIST输入电路、输入选择电路、功能输出电路、MBIST输出电路。当芯片测试电路结构设置为存储器输入接口测试模式时，输入选择电路的第一选择通路接通，选择功能输入电路作为当前输入电路，选择MBIST输出电路为当前输出电路；当芯片测试电路结构设置为存储器输出端口测试模式时，输入选择电路的第二选择通路接通，选择MBIST输入电路为当前输入电路，选择功能输出电路为当前输出电路。本发明提高了芯片测试路径覆盖率和芯片运行频率。