存储器输出接口功能路径测试方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉一种存储器输出接口功能路径测试方法、电子设备和介质，方法包括：步骤S1、获取与存储器输出接口所连接的功能输出电路中的目标输出接口功能路径，生成目标输出接口功能路径列表；步骤S2、自动测试向量生成工具从所述目标输出接口功能路径列表中选择至少一个目标输出接口功能路径，自动生成测试向量；步骤S3、将所生成的测试向量通过MBIST输入电路输入至存储器中；步骤S4、通过所选择的目标输出接口功能路径在输出接口创建转换，捕获目标输出数据，将所述目标输出数据与预设值进行对比，若一致，则测试通过，否则，测试不通过。本发明提高了存储器输出接口测试性能，提升了芯片运行频率。