芯片输出的外围器件连接的检测方法及电路

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正文
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芯片输出的外围器件连接的检测方法及电路
申请号:CN202411886184
申请日期:2024-12-20
公开号:CN119335445B
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本公开的实施例提供一种芯片输出的外围器件连接的检测方法及电路,方法包括:通过芯片内部的第一晶体管将第二引脚的电压下拉至零电位;通过芯片内部的第二晶体管将输出端的电压下拉至零电位;通过芯片内部的第三晶体管对第一电容充电,使第一电容、电感、第二电容、以及第二晶体管组成谐振电路;获取第二引脚的电压波形,并按照预设检测规则对电压波形进行检测,输出波形检测结果信号;对波形检测结果信号进行逻辑处理得到安全检测结果信号,并根据安全检测结果信号判断芯片输出的所有外围器件是否都连接正常。解决现有芯片输出的外围器件连接的检测方式不能对芯片输出的所有外围器件的连接进行同时监控,影响芯片功能安全检测的实际结果的问题。
技术关键词
晶体管 波形 芯片 放电模块 开关电压转换器 电容 信号 谐振电路 电感 充电模块 接地端 逻辑 脉冲 输出端 功率管 电阻
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