芯片自测试系统及测试方法

一种芯片自测试系统及测试方法，芯片自测试系统包括：测试机以及被测芯片，其中：测试机，与被测芯片耦接，适于向被测芯片烧录测试程序，获取被测芯片反馈的温感电压转换码以判断被测芯片是否异常；被测芯片包括电源管理模块、存储器、微控制器核、模数转换器以及温度传感器，其中：电源管理模块为被测芯片提供工作电压和参考电压；存储器存储测试程序；微控制器核读取测试程序并运行；温度传感器，采集被测芯片的实时温度并转换成温感电压输出至模数转换器；模数转换器将温感电压转换成对应的温感电压转换码并通过微控制器核输出至测试机。采用上述方案，对MCU芯片进行测试时无需占用较多的测试机资源。