一种RISC-V DSP芯片ATE测试模块的校验方法、系统和存储介质

本发明提供了一种RISC‑V DSP芯片ATE测试模块的校验方法、系统和存储介质，首先，根据第一波形信息得到第一频率信息，校验第一频率信息与第二频率信息的关系，用以设置第一标志信息；其次，根据第一波形信息得到第一电压信息，校验第一电压信息与第二电压信息的关系，用以设置第二标志信息；然后，根据功能模块的配置信息，校验输出引脚的使用正确情况，用以设置第三标志信息；最后，根据第一标志信息、第二标志信息和第三标志信息，自动调整核心配置模块和功能模块的配置情况用于芯片ATE复测，或生成并向后台发送对应的查验指令，提高模块校验的效率。