一种芯片辅助测试系统的数据分析方法及系统

本发明公开了一种芯片辅助测试系统的数据分析方法及系统，该方法包括以下步骤：对被测芯片在芯片辅助测试系统测试所得到的原始数据进行分析和计算，得到预处理后的原始数据的分析值，并与对应的预设范围进行对比，判断预处理后的原始数据的分析值是否在对应的预设范围内，若否，则将该预处理后的原始数据的分析值导入预设的数据库，并从数据库中找出该预处理后的原始数据的分析值在对应的预设范围内运行的程序，并将其与该预处理后的原始数据的分析值进行对比，以发现被测芯片不合格存在的问题。本发明解决了传统的芯片辅助测试系统的数据分析方法中，仅限于判断出芯片是否合格，而无法找出芯片不合格时存在的问题并及时给出解决方案的问题。