一种光谱成像仪辐射亮度校正方法

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一种光谱成像仪辐射亮度校正方法
申请号:CN202411900193
申请日期:2024-12-23
公开号:CN119714532B
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种光谱成像仪辐射亮度校正方法,利用已完成辐射定标的光谱成像仪结合BP神经网络,对已知DN值响应的光谱成像仪完成辐射校正,解决了传统方法对高昂定标仪器、复杂定标操作和严苛试实验条件的依赖。只需要使用未校准光谱成像仪与已校准光谱成像仪同时拍摄若干幅未知场景的图像,分析计算已校准光谱成像仪与未校准光谱成像仪的拍摄角度与图像分辨率空间几何关系。利用BP神经网络拟合已校准光谱成像仪的DN值图像与其辐射亮度图像的映射关系。基于两台光谱成像仪的拍摄的DN值图像数值关系与已分析出的空间几何关系,利用拟合的映射关系,由未校准光谱成像仪拍摄的DN值计算出其辐射亮度。
技术关键词
光谱成像仪 辐射亮度校正方法 校准 图像 像素点 基准 视场角 BP神经网络拟合 坐标系 定标仪器 前馈神经网络 关系 参数 仿真软件
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