图像分析方法、系统,电子设备及介质

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图像分析方法、系统,电子设备及介质
申请号:CN202411905414
申请日期:2024-12-23
公开号:CN119722651A
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种图像分析方法、系统,电子设备及介质,所述图像分析方法包括:获取待分析的超声影像;利用第一深度学习模型对所述待分析的超声影像进行分类处理,以获取分类结果,利用第二深度学习模型对所述待分析的超声影像进行质量检测,以获取质量检测结果;根据所述分类结果和所述质量检测结果对所述待分析的超声影像进行综合分析,获取图像分析结果;其中,所述第一深度学习模型和多数第二深度学习模型利用同一骨干网络搭建。此种图像分析方法能够将图像分类和质量检测集成到同一模型中,实现了高效的视图分类与质量检测,提高了超声影像分类和质量检测的准确性和一致性。
技术关键词
图像分析方法 超声影像数据 深度学习模型训练 电子设备 图像分析系统 图像获取模块 存储计算机程序 图像类别 多层感知机 图像增强 分辨率 融合特征 网络 处理器 分析模块
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