一种测距芯片的测试方法及计算机可读存储介质

本发明提供一种测距芯片的测试方法及计算机可读存储介质，所述方法应用于芯片测距系统，所述芯片测距系统包括多个测距芯片，所述测距芯片包括SPAD阵列、MCU、TDC模块、寄存器及SRAM，所述方法包括：向所述寄存器配置测试功能，根据所述测试功能向寄存器配置预设直方图；启动每一测距芯片进行测距，生成测试直方图；根据所述测试功能，MCU对比所述测试直方图和所述预设直方图，得到所述测试功能的测试结果。本申请提供的测距芯片的测试方法，通过配置预设直方图来测试测距芯片不同功能点是否正常工作，满足多维度测试测距芯片的要求。