一种沟槽MOSFET器件、制造方法和芯片

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正文
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一种沟槽MOSFET器件、制造方法和芯片
申请号:CN202411906649
申请日期:2024-12-23
公开号:CN119907284A
公开日期:2025-04-29
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供了一种沟槽MOSFET器件、制造方法和芯片,器件包括沿第一方向交替排列的第一截面区、第二截面区和第三截面区;第一截面区、第二截面区和第三截面区均包括:N型衬底、外延层、第一沟槽、氧化层、第一N区、P阱区、N+区、第二沟槽、栅极和源极;外延层设于N型衬底的一侧;第一N区位于第一沟槽两侧的下方;N+区位于第一沟槽两侧;P阱区连接于N+区的下方;第二沟槽位于第一沟槽的底部;通过第一截面区的位于第二沟槽底部及拐角的P区起到的电场屏蔽作用,以及第三截面区的位于第一沟槽底部的P区起到的电场屏蔽作用,从而避免沟槽拐角处产生较强电场导致的器件损坏,提高了器件的可靠性。
技术关键词
N型衬底 外延 栅极 多晶硅 离子 生长栅氧化层 接触孔 介质 沟槽表面 淀积金属 电场 芯片 绝缘材料 拐角 凹槽
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