一种硅通孔结构及其制造方法

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一种硅通孔结构及其制造方法
申请号:CN202411907679
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119812147A
公开日期:2025-04-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种硅通孔结构及其制造方法。该结构包括:键合层;焊盘,布置在所述键合层之上;第一绝缘层,布置在所述键合层和所述焊盘之上,所述第一绝缘层中布置第一开口;晶圆,布置在所述第一绝缘层之上,所述晶圆中布置通孔,所述通孔的开口尺寸大于所述第一开口的尺寸;第二绝缘层,布置在所述晶圆的上表面和侧面;互连结构,布置在所述第二绝缘层和所述焊盘之上,所述互连结构与所述焊盘电连接。本发明提供的硅通孔结构,在绝缘层开窗时采用干膜作为掩膜,控制干膜开口的尺寸,使得绝缘层开口尺寸小于通孔开口的尺寸,可以避免绝缘层开窗时的notch产生,降低开窗工艺难度,提高产品良率。
技术关键词
硅通孔结构 开口尺寸 焊盘 晶圆 制作互连结构 Bosch工艺 芯片模块 干膜 光刻胶 氮化硅 氧化硅 开窗工艺 蓝宝石片 制作通孔 玻璃片
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