基于FPGA的测试终端及测试系统

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基于FPGA的测试终端及测试系统
申请号:CN202411912304
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119882671A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本公开提供一种基于FPGA的测试终端及测试系统,基于FPGA实现的测试终端包括:通信模块、组态数据解析模块、测试向量生成模块、驱动模块和接收模块;通信模块获取测试功能的组态数据;组态数据解析模块解析组态数据得到待测信号设定、硬件接口配置和测试向量功能;测试向量生成模块根据测试向量功能生成测试向量;驱动模块根据测试向量生成测试激励电信号,将测试激励电信号发送至外部的测试设备;接收模块接收测试设备发送的测试信号,并将测试信号转换成数字化的测量值。本公开通过先进的FPGA技术,能够实现实时处理能力、智能化数据分析和自动标定功能,提升了测试过程的效率和测试结果的质量,增强了故障预判能力和维护管理水平。
技术关键词
测试终端 测试设备 组态 生成测试向量 通信模块 电信号 诊断模块 智能化数据分析 校准 功能块 数学模型 标定功能 存储模块 电路 拟合算法 接口
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