一种基于机器学习的IC点数设备及清点方法

本发明公开了一种基于机器学习的IC点数设备及清点方法，涉及IC芯片点数设备领域。其包括Tray盘上下料机，所述Tray盘上下料机包括设备框架、移动座和取放料机械手，所述设备框架包括放料区、作业区和清点区，所述作业区和清点区设置在放料区的下方，所述移动座安装在作业区中，且移动座可移动到清点区。本发明通过在传统的Tray盘上下料机上设置一处清点区，并且在清点区中安装顶部拍摄组和侧面拍摄组，方便在加工过程中可以随时对Tray盘从上端和侧面进行拍摄，并且将顶部拍摄组和侧面拍摄组连接电脑将图片上传后进行运算，通过图片对比的方式来将Tray盘上的IC芯片数量和异常点输出。