测试用例生成方法、电子设备及存储介质

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测试用例生成方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202411917970
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119782173A
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种测试用例生成方法、电子设备及存储介质,所述方法包括:将目标文档进行语义递归切片,获得语义连贯的需求文档切片;通过预设大语言模型对所述文档切片进行分片滑窗处理,获得多个测试用例;按照所述多个测试用例包含的功能的相关性,对所述多个测试用例进行合并,得到测试用例集。本申请公开了一种测试用例生成方法、电子设备及存储介质,能够保持分割文本的语义完整且与上下文信息对应,并实现需求文档以“端到端”的方式输出测试用例。
技术关键词
切片 大语言模型 生成方法 语义 生成测试用例 测试用例集 列表 索引 电子设备 分片 可读存储介质 处理器 指令 计算机 语句 文本 存储器 数值
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