一种芯片测试用定位装置

本发明公开了一种芯片测试用定位装置，包括定位主体，其用于进行芯片的放置定位工作；输送主体，其设置在定位主体的底部，且其中轴线与定位主体的中轴线上下对应；下顶出机构，且在定位主体的顶端另一侧位置设置，用于对测试完成后的芯片进行向下顶出到达输送主体的上方，用于对输送主体上输送的芯片进行向上顶出到达定位主体上的效果该芯片测试用定位装置；该芯片测试用定位装置，挡板组件上的旋转板可以与旋转座之间进行拆卸安装，故而便可以根据芯片的尺寸大小，对不同尺寸的旋转板进行拆卸安装工作，由此使得整个定位装置，可以适用于对不同尺寸的芯片的定位测试，且还可以完成不同尺寸的芯片的快速定位夹紧工作，使用范围更广。