一种利用高光谱成像技术评估石刻劣化模式的方法

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一种利用高光谱成像技术评估石刻劣化模式的方法
申请号:CN202411927868
申请日期:2024-12-25
公开号:CN119845874A
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
文物石刻作为珍贵的历史文化遗产,其劣化模式评估对于保护工作至关重要。传统评估方法依赖人工观察与检测,效率低且主观性强。本发明实施例涉及文物石刻劣化模式评估技术领域,公开了一种创新方法。先对采集样品微观观察与矿物检测,明确劣化特征;再用便携式高光谱成像系统采集并校准待评估区域图像,提取光谱特征建库并处理;通过光谱指数分析与图像灰度响应相关性,优化波长组合确定光谱指数筛选劣化模式;采用WOA‑XGBoost算法训练模型,识别石刻劣化模式绘分布云图;结合X射线荧光光谱结果计算风化系数,依区域内劣化模型占比与系数评估劣化程度。本方法实现智能化识别与快速评估,节约人力成本,推动文物石刻勘查自动化进程。
技术关键词
反射率 指数 高光谱成像系统 X射线荧光光谱 波长 高光谱成像技术 模式 XGBoost算法 可移动三脚架 图像灰度特征 历史文化遗产 近红外光谱仪 体视显微镜 劣化特征 数据传输装置 石质文物 校准算法 平滑方法 操作规程
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