芯片测试方法及装置

本申请提供了一种芯片测试方法及装置。其中，芯片测试方法应用于半导体成品测试阶段，包括：读取芯片的第一标识信息，第一标识信息用于识别芯片是否经历直流测试；基于第一标识信息和预设标识信息，确定擦除芯片中写入的测试项目信息；当第一标识信息与预设标识信息一致时，擦除测试项目信息；对芯片进行直流测试；对通过直流测试，且第一标识信息与预设标识信息不一致的芯片，写入预设标识信息为第一标识信息；对芯片进行功能测试；全片擦除通过功能测试的芯片，获取通过半导体成品测试阶段的芯片。本申请具有识别芯片是否进行重复测试，减少擦除测试次数，提高芯片测试效率，提升测试结果可靠性和产品良率的技术效果。