用于磁角度位置传感器芯片检测系统、电路及方法

本申请提供的用于磁角度位置传感器芯片检测系统、电路及方法，具体涉及传感器芯片检测技术领域，该系统包括待测传感器芯片、ATE测试平台、磁角度编码器套组及示波器。待测传感器芯片安装在预定位置，ATE测试平台为其供电并发送磁场环境改变指令。磁角度编码器套组接收指令后转换为磁场变换信号，待测芯片感应此信号并转为模拟或数字信号。示波器根据模拟信号输出磁角度位置信息，ATE测试平台则输入数字信号并验证其对应的磁角度位置信息准确性。该系统解决了MT6501CT‑ADD型磁角度位置传感器芯片在检测过程中存在的精度有限、效率低下以及可靠性不足的技术问题。从而显著提高了芯片检测工作的检测精度、检测效率以及检测的可靠性。