摘要
本申请公开了一种近场测试方法,在近场平面上设置采样点,根据采样点的场值进行平面近远场转换,所述的采样点为非均匀分布,采样点间距与采样点测试距离正相关,所述的测试距离是采样点位置和待测区域原点之间的距离。本申请还公开了一种近场测试系统,使用所述的方法,包括数据处理系统、控制系统和暗室。本申请减少了采样点数量,解决现有测试方法成本高的问题。
技术关键词
采样点
近场测试方法
近场测试系统
近场扫描架
数据处理系统
转换算法
机械系统
控制系统
球面
处理器
暗室
可读存储介质
探头
方位角
间距
存储器
电子设备
转台
连线