一种近场测试方法和系统

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一种近场测试方法和系统
申请号:CN202411938141
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119846321A
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种近场测试方法,在近场平面上设置采样点,根据采样点的场值进行平面近远场转换,所述的采样点为非均匀分布,采样点间距与采样点测试距离正相关,所述的测试距离是采样点位置和待测区域原点之间的距离。本申请还公开了一种近场测试系统,使用所述的方法,包括数据处理系统、控制系统和暗室。本申请减少了采样点数量,解决现有测试方法成本高的问题。
技术关键词
采样点 近场测试方法 近场测试系统 近场扫描架 数据处理系统 转换算法 机械系统 控制系统 球面 处理器 暗室 可读存储介质 探头 方位角 间距 存储器 电子设备 转台 连线
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