一种EML芯片测试数据的高效处理方法

本发明公开了一种EML芯片测试数据的高效处理方法，步骤包括：对EML芯片测试机进行软件升级增加JMP接口；收集不同设计项及设计项下对应的不同测试项的汇总测试数据；将汇总测试数据进行数据处理后导入JMP软件，得到EML芯片测试数据的统计分析结果。本发明实现了对EML芯片测试数据的高效处理，本发明的EML芯片测试数据的统计分析结果直观的展示出EML芯片的不同设计对于EML芯片性能的影响，使工程师能够从设计端快速识别和排查影响EML芯片性能的问题，从而进一步提升半导体产品的良率和质量，并大幅提高工程师的工作效率及准确性。