密封电子设备多余物深层信息检测方法

密封电子设备多余物深层信息检测方法，属于密封电子设备多余物检测技术领域。为了解决现有基于脉冲信号进行的密封电子设备多余物检测存在主动忽视底噪信号可能丢掉有用信息的问题。本发明针对N个通道获取到的待测的多余物信号，将一组N个通道对应的多余物信号作为1个多余物信号组；从信号视角出发，分别在多余物信号组中每段多余物信号上提取特征，所述特征包括时域特征和/或频域特征，构建N个特征向量，将N个特征向量转化为一个融合特征向量，称为待测数据；针对待测数据采用分类器进行分类，得到多余物的定位识别结果。在此基础上，还可以从脉冲视角出发，得到多余物的材质识别结果。本发明用于多余物的检测。