一种用于量子电压标准的可快速拆装样品的测试探杆

本发明属于低温测量领域，具体涉及了一种用于量子电压标准的可快速拆装样品的测试探杆，旨在解决现有技术中难以实现量子电压芯片的快速拆装和更换的问题。本发明包括测量转接盒、样品腔、连接杆、第二固定装置和传输组件，测量转接盒至少设置有一个SMA接口和/或多芯插孔，样品腔内部设置有样品测试台，连接杆的其中一端与测量转接盒固定连接，另一端与样品腔固定连接，第二固定装置设置有多个，多个第二固定装置固定设置于连接杆外部且沿连接杆的轴线方向分布，传输组件的一端与测量转接盒连接，传输组件另一端与样品测试台相连。本发明解决了现有技术中难以实现量子电压芯片的快速拆装和更换的问题。