一种基于波长相位共调制的LSPR检测装置及检测方法

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一种基于波长相位共调制的LSPR检测装置及检测方法
申请号:CN202411942060
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119492713A
公开日期:2025-02-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于波长相位共调制的LSPR检测装置及检测方法,装置利用液晶可变延迟器对偏振光进行相位延迟,从而实现出射光光强的正弦调制。降低了对LSPR相位信号解调的难度,提高LSPR相位信号获取速度,大幅提高了检测灵敏度。通过面阵探测器记录光强图像,面阵探测器每个像素对应一个传感通道,有效提高了检测通量。利用光学滤波器对入射光进行可调谐滤波,实现不同波长可控宽场激发LSPR传感芯片,避免宽带光源同时激发导致LSPR纳米芯片的强散射造成不同光谱间串扰,进一步提高了LSPR传感技术的精确度。并且,多个适合的波长拼接,对指定位点进行相位检测,有效扩大了LSPR相位信号的检测动态范围。
技术关键词
光学滤波器 液晶可调 波长 面阵探测器 LSPR传感芯片 延迟器 偏振光 位点 检偏器 LSPR效应 宽带光源 光强 准直透镜 可调谐滤波 成像透镜组 偏振器 曲线
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