自动清洁度分析系统的颗粒分析方法

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正文
推荐专利
自动清洁度分析系统的颗粒分析方法
申请号:CN202411943145
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119804250A
公开日期:2025-04-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种自动清洁度分析系统的颗粒分析方法,主要用于对清洁表面上的颗粒进行自动化分析,以实现精确的清洁度评估。该方法首先通过清洁度分析设备获取清洁表面上的颗粒图像数据,接着,对所述图像数据进行预处理,以提高颗粒边界的清晰度,然后,采用图像识别算法,识别颗粒的形状、尺寸及分类信息,接着,根据颗粒的形状、尺寸和分布信息,计算颗粒数量和颗粒浓度,最后,通过自动化软件生成颗粒分析报告,包括颗粒数量、颗粒浓度、形态分析结果及清洁度评估,并通过反馈机制调整清洁设备的工作状态,以优化清洁过程。该方法能够实现清洁表面颗粒的精准检测与浓度分析,具有广泛的应用前景,特别是在工业清洁、精密制造等领域。
技术关键词
颗粒分析方法 分析系统 清洁设备 图像识别算法 分析设备 深度学习模型 报告 边缘增强算法 后续处理过程 阈值分割算法 分布直方图 形态 简化图像 高清摄像头 机制 学习算法 数据 滤波算法 尺寸
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