一种芯片验证方法、装置、电子设备和计算机程序产品

本发明属于芯片设计技术领域，主要提供了一种芯片验证方法、装置、电子设备和计算机程序产品，通过在电子设计自动化仿真阶段进行联合测试行动小组功能验证，得到芯片在电子设计自动化仿真阶段的验证结果，使得芯片的联合测试行动小组功能验证的时间从现场可编程门阵列验证阶段(即，原型测试与验证阶段)提前到电子设计自动化仿真阶段(即，寄存器传输级验证阶段)，可以实现在电子设计自动化仿真阶段，提前发现芯片设计中可能存在的问题，避免将芯片设计中可能存在的一些问题遗留在现场可编程门阵列验证阶段，并且，当芯片设计存在问题时，可以直接定位到存在问题的寄存器传输级代码，使问题更加显化，有利于提高问题解决的效率。