一种芯片测试方法及系统

本申请公开了一种芯片测试方法及系统，该系统包括：干扰同步装置和干扰装置；干扰同步装置的第一端与被测芯片连接；干扰同步装置的第二端和干扰装置的一端连接，干扰同步装置的第三端与干扰装置另一端连接；其中，干扰同步装置当接收到被测芯片发送的同步指令时，触发干扰装置生成同步干扰信号并对被测芯片测试；在测试过程中被测芯片定时向干扰同步装置发送确认信号；当在预设时间内干扰同步装置未接收到确认信号，则向被测芯片发送异常信号，以输出异常处理信息。通过干扰同步装置精确控制干扰信号的时机，这种精确控制能够使得干扰信号与敏感指令耦合，进而能够有效暴露芯片在特定干扰条件下的异常表现，从而对芯片进行有效故障检测和定位。