一种可降低低钳位瞬态电压的半导体芯片

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一种可降低低钳位瞬态电压的半导体芯片
申请号:CN202411948151
申请日期:2024-12-27
公开号:CN119364863A
公开日期:2025-01-24
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种可降低低钳位瞬态电压的半导体芯片,涉及半导体芯片技术领域,包括背面金属,背面金属的上端设置有衬底层,衬底层的上端两侧分别设置有一号P+隔离区和二号P+隔离区,衬底层的上端中部设置有外延层,外延层的两端分别与一号P+隔离区和二号P+隔离区相连通,外延层内设置有一号掺杂区、三号P+隔离区、二号掺杂区、三号掺杂区和四号掺杂区,外延层内设置有一号散热层和二号散热层。该可降低低钳位瞬态电压的半导体芯片,及时对电磁强度进行减缓,使得提高瞬态电压抑制器的瞬态响应速度增强,使得半导体芯片能够通过不同密度的散热涂层进行连续散热,提高半导体芯片对电流控制的精准度。
技术关键词
掺杂区 散热层 外延 衬底层 散热涂层 半导体芯片技术 瞬态电压抑制器 瞬态响应速度 高导热纳米 沟槽 二极管 导电 引线 密度 碳球 缓冲 涂料
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