一种缺陷检测方法、系统及装置

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一种缺陷检测方法、系统及装置
申请号:CN202411948418
申请日期:2024-12-26
公开号:CN119831971A
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种缺陷检测方法、系统及装置,涉及缺陷检测技术领域,方法包括:控制光源根据待测物体的表面属性投射至少一种目标类型的投射图案,控制相机采集对应的投射图像;利用与各目标类型的投射图案对应的图像处理算法对各投射图像进行处理,得到第一缺陷检测结果;对各第一缺陷检测结果进行融合,得到目标缺陷检测结果。应用本申请实施例的方法,无论待测物体的表面属性有一种或者多种,只需根据待测物体的表面属性选择对应的投射图案,并控制相机采集对应的投射图像,然后利用投射图案对应的图像处理算法进行处理,即可得到待测物体的缺陷检测结果,而无需针对待测物体的表面属性制定检测方案,提高缺陷检测效率。
技术关键词
图案 待测物体 图像处理算法 相机 光源 光度立体 缺陷检测方法 指令 缺陷检测系统 关系 控制器 缺陷检测技术 缺陷检测装置 控制模块
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