芯片测试方法、设备及存储介质

本公开实施例公开了一种芯片测试方法、设备及存储介质，通过接收上位机发送的目标测试项和目标测试项对应的目标配置参数，目标配置参数用于使下位机的测试板卡在执行目标测试项之前，和/或，在执行目标测试项后处于所需的目标测试状态；基于目标配置参数和目标测试项，对待测对象进行测试，得到目标测试项对应的目标测试数据；向上位机发送目标测试数据，以使上位机对目标测试数据进行数据处理，得到目标测试结果，有助于扩展多种测试场景，提高测试多样性。