一种提高封装密度的封装方法及封装结构

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一种提高封装密度的封装方法及封装结构
申请号:CN202411951806
申请日期:2024-12-27
公开号:CN119812112A
公开日期:2025-04-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种提高封装密度的封装方法及封装结构,封装方法包括以下步骤:先分别制作埋入芯片结构和塑封体;将埋入芯片结构的第一信号导出结构焊接在塑封体上的中介层上,完成多颗芯片垂直堆叠,实现电气连接,再进行整体减薄;在埋入芯片结构上形成硅通孔;在硅通孔和芯片背面形成第二再布线层;在第二再布线层表面制作第三钝化层;在第三钝化层上处形成第二信号导出结构,第二信号导出结构制作完成后,通过切割的工艺将产品分成若干个独立Die。本发明通过将塑封体上的中介层与第一信号导出结构焊接在一起,从而实现多颗芯片垂直堆叠,相同体积下能够实现更多的芯片连接,显著提高了封装密度,同时有利于增加产品散热能力,封装可靠性高。
技术关键词
封装方法 EMC塑封料 芯片结构 光敏干膜 中介层 IC芯片 重布线层 封装结构 密度 硅通孔技术 光敏胶 开口尺寸 胶膜 电气 涂布 钻孔
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