摘要
本发明属于但不限于矿物分析技术领域,公开了一种多元密度矿物测试精准度评估及电子束参数优化方法,首先在原料与样品制备环节,严格把控纯矿物纯度、密度范围及代表性,运用专业设备确保粉末状样品粒度均匀、质量比例精准,对树脂光片进行规范处理。接着选用具有高分辨率成像和元素分析功能的分析系统进行测试,并依据样品特性优化参数,准确记录测试数据。然后在结果分析阶段,计算不同测试条件下多元密度矿物的误差,根据误差分析结果与实际需求确定评估指标,综合判断系统准确性。通过建立数学模型,采用回归分析等方法拟合准确性与电子束扫描参数的函数关系,依据模型优化测试参数后再次测试评估,提升多元密度矿物测试的精准度。
技术关键词
参数优化方法
电子束
分析系统
精确数学模型
高分辨率成像
密度
信息数据处理终端
参数优化系统
测试样品
回归分析方法
粉末状样品
误差
判断系统
矿物分析技术
光片
矿物分析仪
研磨设备
高精度天平
计算机设备