局部放电光源特性测试分析系统及方法

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局部放电光源特性测试分析系统及方法
申请号:CN202411956067
申请日期:2024-12-28
公开号:CN119881551A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种局部放电光源特性测试分析系统及方法,属于局放测试技术领域,系统包括气密式全反射光学积分球、工频交流电压及测试回路、高压电极、放电缺陷模型、标准光源、光纤、光谱仪、高频电流传感器、电子示波器;高压电极一端插入气密式全反射光学积分球内部,并且端部连接放电缺陷模型,另一端与工频交流电压及测试回路连接;标准光源设置在气密式全反射光学积分球内部;光纤的输入端伸入气密式全反射光学积分球内,输出端与光谱仪连接;高频电流传感器一端与放电缺陷模型连接,另一端与电子示波器连接,高频电流传感器下侧连接接地线。本发明建立了局部放电的标准光学模型,为放电光学检测的装置设计和布局提供有效参考。
技术关键词
光学积分球 放电缺陷模型 测试分析系统 高频电流传感器 尖端放电缺陷 光谱仪 电子示波器 光源 电极 光纤接口处 光功率 测试分析方法 电压 绝缘套管 局放测试技术 脉冲电流波形 回路 背景噪声
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