一种深紫外大数值孔径长工作距的显微光学系统

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一种深紫外大数值孔径长工作距的显微光学系统
申请号:CN202411958187
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119376085B
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
一种深紫外大数值孔径长工作距的显微光学系统,涉及光学成像技术领域。为解决现有技术中存在的,现有的筒镜的设计往往难以与高数值孔径的物镜完美匹配,对高端显微光学系统存在限制的技术问题,本发明提供的技术方案为:一种深紫外大数值孔径长工作距的显微光学模块,所述模块包括:同轴设置的筒镜光学系统和物镜光学系统;所述筒镜光学系统包括第一透镜组和第二透镜组;所述物镜光学系统包括第三内反透镜组、第四透镜组、第五透镜组和第六内反透镜组。系统还包括与所述模块同轴设置的像平面和物平面。适合应用于显微光学系统的设计工作中。
技术关键词
显微光学系统 透镜组 大数值孔径 物镜光学系统 光学模块 光学成像技术 仿真算法 参数 编辑
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