一种基于ET防漏的缺陷检测方法、装置及存储介质

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一种基于ET防漏的缺陷检测方法、装置及存储介质
申请号:CN202411958971
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119888457A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种基于ET防漏的缺陷检测方法、装置及存储介质,所述方法包括:获取待检测Strip的图像,并根据待检测Strip的标识信息获取待检测Strip的ET信息;识别所述图像中的被标记ET不良记号的Pcs,并结合所述ET信息,对ET不良Pcs进行去重处理,确定待检测Strip中所有的ET不良的Pcs;检测所述图像中Pcs的外观缺陷,并确定对应的Pcs是否报废;根据因外观缺陷报废的Pcs、ET不良的Pcs,基于预设的Strip报废规则,生成待检测Strip的检测结果。本申请提供的技术方案,可以通过在获取ET信息的同时,利用视觉检测ET不良的Pcs,可以避免前工站ET信息的缺失导致的物料的报废误判。
技术关键词
缺陷检测方法 图像 神经网络模型 可读存储介质 标记 处理器 存储器 指令 计算机设备 标识 识别模块 视觉
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