一种基于FPGA和DSP的电磁电容双模态智能缺陷检测系统

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一种基于FPGA和DSP的电磁电容双模态智能缺陷检测系统
申请号:CN202411965210
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119715767A
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于FPGA和DSP的电磁电容双模态智能缺陷检测系统,涉及缺陷检测技术领域,检测系统包括:数字控制与信号处理模块、交流信号激励模块、EMT感应信号调理模块、ECT感应信号调理模块、通讯模块、人机交互模块和电源管理模块。检测系统通过FPGA和DSP协同工作,实现电磁电容双模态检测。检测系统采用30kHz激励频率,并通过仪表放大、低通滤波及二级放大等处理电磁传感器感应信号;检测系统采用200kHz激励频率,通过电荷放大、低通滤波及二级放大等处理电容传感器输出信号。检测系统能够实现对金属、非金属及复合材料中微小缺陷的高精度检测,并通过上位机实现测量结果的可视化展示。
技术关键词
智能缺陷检测系统 DCDC变换器 信号处理模块 信号调理模块 双模态 信号激励模块 数字电源 直流电源 ECT传感器 SPI协议 模数转换电路 电磁传感器 电容传感器 跨阻放大器 人机交互模块 电源管理模块
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