摘要
本发明公开了一种基于FPGA和DSP的电磁电容双模态智能缺陷检测系统,涉及缺陷检测技术领域,检测系统包括:数字控制与信号处理模块、交流信号激励模块、EMT感应信号调理模块、ECT感应信号调理模块、通讯模块、人机交互模块和电源管理模块。检测系统通过FPGA和DSP协同工作,实现电磁电容双模态检测。检测系统采用30kHz激励频率,并通过仪表放大、低通滤波及二级放大等处理电磁传感器感应信号;检测系统采用200kHz激励频率,通过电荷放大、低通滤波及二级放大等处理电容传感器输出信号。检测系统能够实现对金属、非金属及复合材料中微小缺陷的高精度检测,并通过上位机实现测量结果的可视化展示。
技术关键词
智能缺陷检测系统
DCDC变换器
信号处理模块
信号调理模块
双模态
信号激励模块
数字电源
直流电源
ECT传感器
SPI协议
模数转换电路
电磁传感器
电容传感器
跨阻放大器
人机交互模块
电源管理模块
系统为您推荐了相关专利信息
活动监测装置
多模态数据融合
传感器模块
数据传输模块
信号处理模块
超声波计量芯片
信号输出模块
发射端
计量方法
信号处理模块
融合卡尔曼滤波
信号去噪方法
神经网络框架
短时傅里叶变换
非线性噪声
微透镜阵列
光谱成像系统
光电探测器
压缩感知算法
信号处理模块