基于自适应曝光和像素邻域的激光条纹中心线提取方法

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推荐专利
基于自适应曝光和像素邻域的激光条纹中心线提取方法
申请号:CN202411966789
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119919477A
公开日期:2025-05-02
类型:发明专利
摘要
本申请属于光学三维测量技术领域,公开了一种基于自适应曝光和像素邻域的激光条纹中心线提取方法,包括图像预处理、自适应曝光调控、条纹图像细化、激光中心线提取。本方法不仅在图像采集层面采用自适应曝光调控方法,提高了线激光图像采集的质量,而且通过基于像素邻域信息的线激光细化方法,提高了激光条纹中心线的提取精度,更重要是从图像获取和图像处理层面综合优化,提高了激光条纹中心线提取的提取准确性和鲁棒性。
技术关键词
中心线提取方法 邻域 激光条纹图像 二值化算法 感兴趣 像素点 轮廓面积 轮廓提取 调控方法 图片 包络 噪声 掩膜 图像处理
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