一种晶振温度补偿自动化测试系统

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一种晶振温度补偿自动化测试系统
申请号:CN202411968214
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119995521A
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于温补芯片的晶振驯服系统,包括晶振、温补芯片、分频电路、相位测量模块、微控制器和数模转换器,其中:温补芯片用于对晶振进行温度补偿;分频电路用于对晶振的输出信号进行分频处理;相位测量模块用于测量分频信号和参考信号的相位差;微控制器用于存储并定期更新晶振在不同温度下的频率补偿值;还用于在参考信号有效时基于卡尔曼滤波算法对相位差进行处理,在滤波后的相位差大于或等于预设阈值时基于PID控制算法对滤波后的相位差进行处理;数模转换器用于将调节后的相位差转换为模拟信号。本发明提供了一种基于温补芯片的晶振驯服系统,用以解决现有技术中单纯依赖温补芯片进行温度补偿无法满足频率精度高要求场合的问题。
技术关键词
PID控制算法 卡尔曼滤波算法 分频电路 驯服系统 数模转换器 微控制器 温度补偿电路 补偿值 晶振温度补偿 多项式拟合算法 芯片 信号 自动化测试系统 频率 高精度时钟 温度传感器 定时器 模块
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沪ICP备2023015588号