摘要
本发明公开了一种针对小型MCU芯片的自动化验证方法,包括如下步骤:S1、通过调用一个或多个DUAL_DUT,对MCU芯片的多个接口模块进行测试;S2、在normal_memory.rom文件中通过C语言编写主机程序和发送程序,再向DUT存储器中加载上述生成的normal_memory.rom文件;S3、根据主从功能和主机程序以及发送接收功能和发送程序,生成normal_memory.rom文件,并将normal_memory.rom文件载入每个DUAL_DUT存储器中,再通过tb_soc_top.v文件调用每个DUAL_DUT。本发明通过调用一个或多个DUAL_DUT,解决了小型MCU芯片由于PAD端口限制无法同时测试多个接口模块的问题,提高了小型MCU芯片的验证效率,缩短了芯片研发周期。
技术关键词
自动化验证方法
MCU芯片
GPIO接口
发送接收功能
程序
UART接口
接口模块
存储器
主机
SPI接口
标识符
端口
定义
发送端
文本
信噪比
接收端
序列
系统为您推荐了相关专利信息
铣削加工过程
智能分析装置
数据可视化界面
文件存储路径
智能分析模块
合成孔径雷达图像
星载合成孔径雷达
图像仿真
网格
矩阵
设备调度方法
启发式算法
拓扑网络
能耗
集装箱码头