基于改进SegFormer的芯片图像缺陷分割方法

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基于改进SegFormer的芯片图像缺陷分割方法
申请号:CN202411972131
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119904636B
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于改进SegFormer的芯片图像缺陷分割方法,构建芯片表面缺陷图像语义分割数据集;改进SegFormer语义分割网络,将编码器中Transformer Block的自注意力替换为交叉协方差注意力CrossCovAttn,解码器改用U形结构,添加AFF动态特征融合模块;训练得到改进SegFormer语义分割模型;调整模型训练参数,得到优化模型;选取性能最优的改进SegFormer语义分割模型,对芯片表面缺陷图像进行语义分割,得到语义分割结果图像。本发明增强了处理不同类型和尺度缺陷的能力,优化了SegFormer网络分割效果,提高了不同类型和尺度缺陷的分割精度。
技术关键词
图像缺陷分割方法 芯片表面缺陷 语义分割模型 语义分割网络 图像语义分割 多层感知机 注意力 解码器 编码器 U形结构 多尺度 语义特征 光学摄像头 直方图均衡化 像素点 模块 光学显微镜
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