缺陷检测方法、装置和电子设备

本申请公开了一种缺陷检测方法、装置和电子设备，属于图像处理技术领域。所述方法包括：在确定留白区域存在缺陷的情况下，对留白区域进行亮度特征提取处理，得到留白区域的亮度类型；亮度类型包括渐变类型和非渐变类型；在确定留白区域的亮度类型为渐变类型的情况下，对留白区域进行至少一次分区，得到多个目标子区域，目标子区域的亮度类型为非渐变类型；通过目标算法对各目标子区域进行缺陷提取处理，获得各目标子区域的缺陷提取结果；目标算法包括二值化算法和联通区域检测算法中的至少一种；根据各目标子区域的缺陷提取结果，获得留白区域中的缺陷的位置信息，实现准确又全面的定位亮度类型为渐变类型的留白区域中缺陷的位置信息。