芯片测试数据展示方法、装置和电子设备

本申请实施例公开了一种芯片测试数据展示方法、装置和电子设备，方法包括：获取第一目标数据和第二目标数据，生成第一目标数据对应的第一哈希映射，将第二目标数据存储到第一哈希映射中，以对第一目标数据和第二目标数据进行融合，得到第二哈希映射，当接收到数据展示指令，从第二哈希映射中获取数据展示指令对应的目标预期波形数据和目标采样波形数据，并在可视化交互界面上展示目标预期波形数据和目标采样波形数据。由此实现了通过哈希映射的数据结构对各管脚在各周期对应的预期波形数据和采用波形数据的存储，避免了频繁交换数据内存和读取数据的情况，降低了计算量，提高了系统的稳定性。