一种基于反激变换器的VDMOS管开启时间的测试装置

本实用新型涉及一种基于反激变换器的VDMOS管开启时间的测试装置，属于电子元器件测试技术领域。包括脉冲信号放大单元，所述脉冲信号放大单元输入端与单脉冲信号源电连接，所述脉冲信号放大单元输出端与VDMOS管栅极电连接，所述VDMOS管漏极与反激变换主电路电连接，形成回路；示波器的电流探头夹设于所述VDMOS管的漏极。所述脉冲信号放大单元为隔离驱动芯片。所述反激变换主电路包括变压器、RCD吸收电路和输出电路。本申请结构简单，检测便捷，测试电流尖峰的脉宽得出开启时间，使用电流探头，而不使用电压探头，避免了引入电压探头的寄生电容等。