一种芯片多工位测试装置

本实用新型公开了一种芯片多工位测试装置，属于芯片技术领域，其包括：底板，所述底板的顶部固定安装有放置板，所述放置板的顶部设置有双工位夹持组件，所述双工位夹持组件包括：气缸，所述气缸的输出端固定安装有滑块，所述滑块的顶部铰接有两组连杆，通过壳体对不同规格大小的芯片进行夹持固定，大大提高了装置的适应性，且使得芯片在测试过程中能够保持稳定的位置和方向，避免了芯片因移动或偏移而导致的测试误差，确保了测试结果的准确性，此时便于对芯片进行自动下料，且便于对合格与不合格的芯片进行统一的收集，可以避免因为人工操作造成的下料误差，从而提高了下料的准确性，且大大节省了劳动力。